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无屏蔽曝光检测-检测仪器

X 射线机:用于检测物体内部的结构和缺陷。

γ 射线机:可检测厚材料和高密度物体。

中子射线机:适用于检测含氢材料。

紫外线灯:用于检测荧光材料和表面缺陷。

红外线热像仪:可检测物体表面的温度分布。

无屏蔽曝光检测-检测仪器
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。