X 射线衍射分析：用于确定无定形碳化硅的晶体结构。
扫描电子显微镜：观察无定形碳化硅的表面形貌和微观结构。
元素分析：检测无定形碳化硅中的元素组成。
红外光谱分析：用于分析无定形碳化硅的化学键和官能团。
热重分析：测量无定形碳化硅在加热过程中的质量变化。
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中析研究所
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