X 射线衍射仪：通过对晶体衍射图谱的分析，可以确定沃特拉位错的类型、密度和分布等信息。
电子显微镜：可以直接观察沃特拉位错的形态、尺寸和位置等。
原子力显微镜：用于检测沃特拉位错引起的表面形貌变化。
拉曼光谱仪：可以分析沃特拉位错对材料的化学键和晶体结构的影响。
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中析研究所
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