再磨循环检测通常用到以下仪器：
1. 微粉分析仪
微粉分析仪可以用于粉体的颗粒大小分析和分布检测，通过激光散射原理进行测量，可获取粉体样品中颗粒的粒径及颗粒大小的分布情况。
2. 扫描电子显微镜（SEM）
扫描电子显微镜主要用于观察和检测材料表面、颗粒形貌以及颗粒间结构的形态、大小和形貌等特性。通过高能电子束的扫描来获取样品表面微观形貌的图像。
3. X射线衍射仪（XRD）
X射线衍射仪可以分析材料的晶体结构和衍射图谱，通过照射样品后测量衍射出的X射线波长和强度，进而确定材料的晶体结构和成分。
4. 气相色谱仪（GC）
气相色谱仪用于分离和检测气体或挥发性液体中的各种成分。样品经过柱子的分离后，各成分会在不同时间点上出现，通过检测器测量各成分的峰面积或峰高来进行定量分析。
5. 粒度分析仪
粒度分析仪可以测量固体颗粒的粒径大小和分布情况。通过颗粒在液体中的沉降速度或散射光的特性，结合一定的原理和方法，计算得出样品中颗粒的粒径分布情况。
