X 射线衍射法：通过测量晶体中衍射峰的位置和强度，来确定晶体结构和位错密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构和分布。
原子力显微镜法：可以测量晶体表面的形貌和位错密度。
光致发光谱法：通过测量晶体中的光致发光谱，来确定位错密度和晶体质量。
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中析研究所
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