X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，可确定晶体结构和位向无序程度。
电子背散射衍射仪（EBSD）：用于分析晶体材料的微观结构和位向关系。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供高分辨率的微观结构信息，包括位向无序。
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中析研究所
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