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电子显微镜:可用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪:可以检测位错引起的晶格畸变。
原子力显微镜:能够提供位错的高分辨率图像。
透射电子显微镜:用于研究位错的微观结构。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。