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电子显微镜：用于观察位错的形态、分布和运动等。
X 射线衍射仪：可以分析位错的结构和晶体取向。
原子力显微镜：能够检测位错引起的表面形貌变化。
扫描隧道显微镜：可用于研究位错在原子尺度上的行为。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
