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电子显微镜：可用于观察材料中的位错结构和符号。
X 射线衍射仪：通过分析衍射图谱来确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
