电子显微镜观察：通过电子显微镜对样品进行观察，直接检测位错的存在和形态。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析晶体结构，间接推断位错的存在。
原子力显微镜：可以提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错。
光学显微镜：在特定条件下，可用于观察位错。
电阻率测量：位错的存在可能会影响材料的电阻率，通过测量电阻率的变化来检测位错。
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中析研究所
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