电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察位错芯的形态和结构。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析晶体结构，确定位错芯的存在和性质。
原子力显微镜：使用原子力显微镜测量位错芯周围的表面形貌和力学性质。
扫描隧道显微镜：通过扫描隧道显微镜探测位错芯的电子态和局部结构。
光学显微镜：在特定条件下，利用光学显微镜观察位错芯的光学特征。
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中析研究所
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