电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察位错的形态和分布。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析晶体结构，间接推断位错的存在。
光学显微镜观察：在位错密度较高时，可通过光学显微镜观察到位错的存在。
原子力显微镜：可以提供高分辨率的位错图像。
正电子湮没谱学：用于检测位错附近的缺陷。
电阻测量：位错的存在会影响材料的电阻，可通过电阻测量来检测位错。
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中析研究所
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