X 射线衍射法：通过测量晶体中衍射峰的位置和强度，来确定位错的存在和迁移率。
电子显微镜法：利用电子显微镜观察晶体中的位错结构和运动，从而确定位错的迁移率。
原子力显微镜法：通过测量晶体表面的原子力，来确定位错的存在和迁移率。
电阻率测量法：测量晶体的电阻率，来确定位错的存在和迁移率。
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中析研究所
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