电子显微镜观察法：通过电子显微镜观察材料中的位错形态和分布，从而确定位错攀移力的大小。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射技术测量材料的晶格常数和衍射峰的变化，来评估位错攀移力的影响。
原子力显微镜法：通过原子力显微镜测量材料表面的形貌和力学性质，间接推断位错攀移力的大小。
拉伸试验法：在拉伸过程中监测材料的变形行为，分析位错攀移力对材料力学性能的影响。
模拟计算法：使用计算机模拟软件对材料中位错的攀移行为进行模拟，计算位错攀移力的数值。
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中析研究所
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