光学显微镜检测法：利用光学显微镜观察材料表面或截面的位错空洞。
扫描电子显微镜检测法：通过扫描电子显微镜获取高分辨率的位错空洞图像。
透射电子显微镜检测法：可以提供更详细的位错空洞结构信息。
X 射线衍射检测法：分析材料的晶体结构，间接检测位错空洞。
电子背散射衍射检测法：用于确定位错空洞的取向和分布。
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中析研究所
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