X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构。
扫描电子显微镜：可观察样品的表面形貌和微观结构。
热重分析仪器：测量样品在加热过程中的质量变化。
红外光谱仪：用于分析物质的化学键和官能团。
粒度分析仪：测量样品的粒度分布。
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中析研究所
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