X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：利用电子束照射样品，观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：可以直接测量位错的高度和形状。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错观察。
扫描隧道显微镜法：能够提供原子级别的分辨率。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/