电子显微镜检测法：通过电子显微镜观察材料中的位错边界。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射图谱分析位错边界的特征。
原子力显微镜检测法：可以直接测量位错边界的形貌和结构。
扫描隧道显微镜检测法：提供高分辨率的位错边界图像。
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中析研究所
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