X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和确定晶体相。
扫描电子显微镜：可以观察晶体的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于研究晶体表面的形貌和粗糙度。
热重分析：可以检测晶体在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热分析：用于研究晶体的热性质和相变。
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中析研究所
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