X 射线衍射（XRD）：用于分析材料的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察材料的微观形貌和表面结构。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：用于元素分析。
原子力显微镜（AFM）：能够测量材料的表面形貌和粗糙度。
拉曼光谱：可提供材料的分子结构信息。
荧光光谱：用于分析材料的发光特性。
热重分析（TGA）：研究材料的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热法（DSC）：分析材料的相变和热性能。
红外光谱：用于检测材料中的官能团和化学键。
电化学测试：如循环伏安法、交流阻抗谱等，用于研究材料的电化学性能。
