微同轴检测是一种用于检测微同轴结构的技术。它可以检测微同轴的尺寸、形状、位置等参数，以及微同轴内部的缺陷和损伤。
微同轴检测的方法包括光学检测、电学检测、声学检测等。其中，光学检测是最常用的方法之一，它可以通过显微镜、激光扫描等手段对微同轴进行检测。
电学检测则是通过测量微同轴的电阻、电容等参数来检测其性能。声学检测则是通过声波对微同轴进行检测，适用于检测微同轴内部的缺陷和损伤。
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