光学显微镜检测：利用光学显微镜观察物体的微观结构，适用于微米级别的检测。
电子显微镜检测：通过电子束扫描物体表面，获得高分辨率的图像，可检测到更小的微米级尺寸。
激光干涉仪检测：利用激光干涉原理测量物体的形状和尺寸，精度可达微米级别。
扫描探针显微镜检测：通过探针与物体表面的相互作用，获取表面形貌和物理性质信息，可检测到微米级别的细节。
X 射线衍射检测：分析物质的晶体结构和成分，可检测到微米级别的晶体缺陷和杂质。
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中析研究所
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