扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察材料表面的微观结构，包括微孔洞的形态、大小和分布。
X 射线衍射仪（XRD）：可用于分析材料的晶体结构，确定微孔洞周围的晶体取向。
光学显微镜：可用于观察微孔洞的形态和分布，但分辨率相对较低。
超声波检测仪：可用于检测材料内部的缺陷，包括微孔洞。
电子探针分析仪（EPMA）：可用于分析微孔洞周围的化学成分。
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中析研究所
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