扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的微观结构和表面形貌，可检测到纳米级别的细节。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供更高分辨率的微观结构信息，可观察到原子级别的结构。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构和相组成。
能谱仪（EDS）：与 SEM 或 TEM 结合使用，可进行元素分析。
原子力显微镜（AFM）：用于测量材料表面的形貌和力学性质。
拉曼光谱仪：可分析材料的分子结构和化学键。
红外光谱仪：用于检测材料中的官能团和化学键。
热重分析（TGA）：可测量材料在加热过程中的质量变化，用于分析材料的热稳定性和成分。
差示扫描量热仪（DSC）：用于研究材料的热性能，如相变温度和热焓。
动态力学分析（DMA）：可测量材料的动态力学性能，如模量和阻尼。
