显微镜检测：通过显微镜观察微小光学元件的表面和结构，检测其质量和性能。
干涉测量：利用干涉原理测量光学元件的平整度、厚度等参数。
光谱分析：通过分析光学元件的光谱特性，检测其材料成分和光学性能。
散射测量：测量光学元件表面的散射特性，评估其表面质量。
光强测量：检测光学元件的光强分布和透过率。
波前检测：测量光学元件的波前误差，评估其成像质量。
焦距测量：测量光学元件的焦距，确保其符合设计要求。
色差测量：检测光学元件的色差，评估其颜色保真度。
偏振测量：测量光学元件的偏振特性，确保其符合特定的偏振要求。
