1. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察和分析材料的表面形貌和微结构。
2. X射线衍射仪（XRD）：用于分析样品的晶体结构、晶格常数和晶体缺陷。
3. 气相色谱仪（GC）：用于分离和分析混合气体或液体样品中的成分。
4. 液相色谱仪（HPLC）：用于分离和分析液体样品中的化合物。
5. 质谱仪（MS）：用于分析样品中的化合物的结构和质量。
6. 红外光谱仪（IR）：用于分析材料中的化学键和官能团。
7. 紫外可见光谱仪（UV-Vis）：用于分析样品的吸收和透射特性。
8. 热重分析仪（TGA）：用于测量材料在不同温度下的质量变化。
9. 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：用于检测和分析样品中的功能性基团。
10. 压电测试仪：用于测试压电材料的性能和特性。
