扫描电子显微镜（SEM）：可以用于观察网格状枝晶的形态和结构。
X 射线衍射（XRD）：可以分析网格状枝晶的晶体结构。
电子背散射衍射（EBSD）：可以确定网格状枝晶的晶体取向。
能量色散 X 射线谱（EDS）：可以分析网格状枝晶的化学成分。
原子力显微镜（AFM）：可以用于研究网格状枝晶的表面形貌。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/