直接跃迁检测是一种用来检测物质的电子结构和原子能级跃迁的方法。
常见的直接跃迁检测技术包括但不限于：
原子吸收光谱（AAS）：通过测量样品吸收特定波长的光线来确定样品中某种金属元素的含量。
原子发射光谱（AES）：通过激发样品中的原子使其发射特定波长的光线，并测量光线强度来确定元素的含量。
荧光光谱（XRF）：通过激发样品中的原子产生荧光，并测量荧光强度来确定元素的含量。
激光诱导击穿光谱（LIBS）：通过使用激光脉冲激发样品产生等离子体，并测量产生的辐射光谱来确定元素的含量。
核磁共振（NMR）：通过测量样品中核磁共振信号的频率和强度来确定样品的化学结构。
电子能谱（XPS、UPS）：通过测量样品中电子能级的能量和强度来确定样品的化学成分和电子结构。
