外延检测是一种对半导体材料的检测方法，主要用于检测外延层的质量和性能。
常见的外延检测项目包括但不限于：
外延层厚度：测量外延层的厚度，以确保其符合设计要求。
外延层电阻率：检测外延层的电阻率，以评估其导电性能。
外延层杂质浓度：分析外延层中的杂质浓度，以了解其纯度和质量。
外延层晶体结构：研究外延层的晶体结构，以确定其结晶质量和完整性。
外延层表面形貌：观察外延层的表面形貌，以评估其平整度和粗糙度。
外延层缺陷密度：检测外延层中的缺陷密度，以了解其质量和可靠性。
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中析研究所
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