X 射线吸收精细结构谱（XAFS）：可用于确定外配位层的原子种类、数量和距离等信息。
扩展 X 射线吸收精细结构谱（EXAFS）：用于研究外配位层中原子的近邻结构。
X 射线光电子能谱（XPS）：可以提供外配位层元素的化学状态和化学键信息。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：用于检测外配位层中官能团的存在和变化。
核磁共振（NMR）：可提供外配位层中原子的化学环境和分子结构信息。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/