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X 射线荧光光谱仪：用于分析样品中的元素组成，检测硅含量。
原子吸收光谱仪：可检测溶液中硅的浓度。
电感耦合等离子体发射光谱仪：用于测定硅及其他元素的含量。
分光光度计：可用于检测硅的含量。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
