长双晶方向检测（Extended Twin Boundary Orientation Determination）是一种用于确定材料中长双晶方向的检测方法。
长双晶是指晶粒中存在的一个相对较大的晶粒内部区域，区域内形成了平行的晶界，这些晶界称为长双晶界。长双晶在材料力学性能、疲劳寿命、腐蚀行为等方面具有重要影响。
长双晶方向检测的主要应用对象包括但不限于：
金属材料：如钢铁、铝合金、镍合金等。
非金属材料：如陶瓷、聚合物等。
电子材料：如半导体、光学材料等。
典型的长双晶方向检测方法包括：
电子背散射衍射（EBSD）：通过对材料表面的电子衍射图谱进行分析，确定长双晶的方向和结构。
透射电子显微镜（TEM）：使用透射电子显微镜观察样品的晶体结构，确定长双晶的存在和方向。
X射线衍射（XRD）：通过分析材料的X射线衍射图谱，确定长双晶的方向和结构。
