压汞仪：用于测量岩石、土壤等多孔介质的孔隙结构和孔径分布，可检测退汞效率。
表面张力仪：用于测量液体的表面张力，可间接反映退汞效率。
X 射线衍射仪：用于分析物质的晶体结构，可检测退汞过程中物质的结构变化。
扫描电子显微镜：用于观察物质的表面形貌和微观结构，可检测退汞前后物质的表面变化。
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中析研究所
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