X 射线衍射法：通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱，分析晶体的结构和取向。
光学显微镜法：观察晶体的形貌和双晶特征。
电子背散射衍射法：利用电子束在晶体表面的散射，确定晶体的取向和结构。
扫描电子显微镜法：提供晶体表面的高分辨率图像，有助于观察双晶界面。
原子力显微镜法：用于测量晶体表面的形貌和微观结构。
拉曼光谱法：分析晶体的振动模式，提供关于晶体结构和缺陷的信息。
热分析法：研究晶体在加热或冷却过程中的相变和热性能。
磁性能测试：适用于磁性材料的双晶检测，评估磁性能的变化。
硬度测试：测量晶体的硬度，间接反映晶体的结构和缺陷。
化学分析：确定晶体中的化学成分，以了解晶体的性质和纯度。
