原子力显微镜（AFM）：可以测量原子间的相互作用力，用于研究材料的表面形貌、物理性质等。
扫描隧道显微镜（STM）：能够检测材料表面的电子态密度，以及原子和分子的排列结构。
X 射线光电子能谱仪（XPS）：用于分析材料表面的化学成分和化学态。
拉曼光谱仪：可以检测分子的振动和转动能级，从而确定分子的结构和化学键。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/