扫描隧道显微镜（STM）：可用于表面形貌和原子结构的高分辨率成像。
原子力显微镜（AFM）：能够测量表面的形貌、粗糙度和力学性质。
X 射线光电子能谱（XPS）：用于分析表面的化学成分和化学状态。
拉曼光谱：可提供关于分子结构和化学键的信息。
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察表面形貌和微观结构。
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中析研究所
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