X 射线荧光光谱仪：可用于分析图层中的元素组成。
扫描电子显微镜：能观察图层的微观结构和表面形貌。
原子力显微镜：可提供图层的高分辨率形貌图像。
傅里叶变换红外光谱仪：用于分析图层中的化学键和官能团。
拉曼光谱仪：可检测图层中的分子振动信息。
紫外-可见分光光度计：可用于测定图层的光学性质。
热重分析仪：能分析图层的热稳定性和成分变化。
差示扫描量热仪：可研究图层的热行为和相变。
X 射线衍射仪：用于确定图层的晶体结构。
电子探针：可进行图层的微区成分分析。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/