直栅漏空检测主要用于电子元器件的制造和组装过程中，用于测试电路板上的直栅（Gate）与源（Source）之间是否存在漏电。
常见的直栅漏空检测对象包括但不限于：
1. MOSFET（金属-氧化物-半导体场效应晶体管）：直栅漏空检测可用于测试MOSFET的直栅与源之间是否存在漏电现象。
2. IGBT（绝缘栅双极晶体管）：直栅漏空检测可用于测试IGBT的直栅与源之间是否存在漏电现象。
3. 功率模块：直栅漏空检测可以应用于测试功率模块中的直栅与源之间的漏电情况。
4. 电路板：直栅漏空检测可以测试电路板上的各个器件的直栅与源之间的漏电情况。
5. 其他电子元器件：直栅漏空检测也可以应用于测试其他类型的电子元器件上的直栅与源之间是否存在漏电。
