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X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和相变。
扫描电子显微镜：用于观察表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于测量表面形貌和力学性质。
拉曼光谱仪：用于分析分子结构和化学键。
荧光光谱仪：用于检测荧光物质的发光特性。
中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于：标准试验，非标检测，分析测试，认证设计，产品验收，质量内控，矢量分析，内部控制，司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。
