衍射花样分析：通过观察衍射花样的特征，如衍射斑点的位置、强度和对称性，来确定晶体的结构和取向。
晶体结构测定：利用衍射花样中的衍射斑点位置和强度信息，进行晶体结构的测定和分析。
缺陷分析：检测晶体中的缺陷，如位错、层错等。
薄膜厚度测量：通过测量衍射花样中特定衍射斑点的强度或位置变化，来确定薄膜的厚度。
界面结构研究：分析晶体界面的结构和取向关系。
相变研究：监测晶体在相变过程中的结构变化。
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中析研究所
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