杂质扩散系数检测主要用于材料科学领域，用于评估材料中的杂质扩散性能和表征材料的纯度。
常见的杂质扩散系数检测对象包括但不限于：
1. 金属材料：如钢、铝、铜等金属材料。
2. 半导体材料：如硅、镓、锗等半导体材料。
3. 陶瓷材料：如氧化铝、氧化镁等陶瓷材料。
4. 磁性材料：如铁氧体、氧化铁等磁性材料。
5. 光学材料：如晶体、玻璃等光学材料。
6. 高分子材料：如塑料、橡胶等高分子材料。
7. 化学试剂：如溶液、固体试剂等。
杂质扩散系数检测方法：
1. 热失重法：通过控制样品的加热速率，测量样品在不同温度下的失重，进而计算杂质扩散系数。
2. 离子迁移法：利用电化学实验技术，测量杂质在电场或电压作用下的运动速率，推导出杂质的扩散系数。
3. 溶质扩散法：通过将样品浸泡在溶液中，测量溶液中杂质浓度的变化，计算杂质扩散系数。
4. X射线衍射法：通过测量样品表面和内部的X射线衍射图案的变化，分析材料中杂质相对浓度的变化，间接计算杂质扩散系数。
