检测项目
平面波频率响应：检测范围10MHz-40GHz，分辨率≤1kHz
波前均匀性：偏差阈值≤±1.5dB（按ISO 17450-3）
功率密度分布：测量精度±0.5dBm²（基于GB/T 17626.3）
材料衰减系数：动态范围30dB-120dB（ASTM E1050）
相位稳定性：相位波动≤±5°（依据IEC 61196-1）
检测范围
金属材料：铝合金、钛合金等导电材料表面阻抗检测
复合材料：碳纤维增强塑料（CFRP）层间反射特性分析
电子元器件：射频滤波器、天线阵列辐射特性验证
吸波材料：铁氧体基复合材料的电磁波吸收效率测试
光学镀膜：红外窗口镀层平面波透过率测定（2-14μm波段）
检测方法
远场法：ASTM E1995-21《天线远场测量标准》
近场扫描法：ISO 17025:2017第7.2.2条款
时域反射法：GB/T 17626.3-2023电磁兼容试验标准
矢量网络分析法：IEC 62132-8集成电路电磁抗扰度测试
激光干涉法：JJG 413-2015光学平面波前检测规程
检测设备
Keysight N9048B信号分析仪：频率范围10Hz-50GHz，支持脉冲调制波分析
Rohde & Schwarz ATS1500暗室系统：3m法平面波生成，场均匀性±2dB
B&K 2250声学分析仪：声平面波检测，频率范围20Hz-20kHz
Anritsu MS46122B矢量网络分析仪：支持TRL校准，动态范围140dB
OLYMPUS NDT Omniscan MX2：超声平面波相控阵检测，128通道并行采集
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
