检测项目
双折射率测定（范围：0.001-0.1，分辨率0.0001）
晶体取向分析（角度范围0°-180°，精度±0.5°）
残余应力分布检测（灵敏度≥0.1 MPa）
晶粒尺寸分布统计（测量范围0.1-500 μm）
相组成及界面形貌表征（分辨率≤0.5 μm）
检测范围
高分子材料（如聚乙烯、聚丙烯薄膜）
液晶显示器件（LCD偏光片、液晶分子排列）
金属及合金（冷轧板材织构分析）
地质矿物样品（石英、长石双折射特性）
生物组织切片（胶原纤维定向性研究）
检测方法
ASTM E766-14：偏振光显微镜校准规范
ISO 18562-4：生物材料双折射测试方法
GB/T 16594-2008：微米级长度偏振测量标准
GB/T 20307-2006：纳米薄膜应力光学系数测定
ISO 23729：晶体材料取向成像分析通则
检测设备
奥林巴斯BX53-P：配备U-CTB偏振控制器，支持定量双折射成像
徕卡DM2700P：集成旋转载物台，支持自动消光角测量
尼康Eclipse LV100N POL：配置DIC模块，晶界对比度增强
蔡司Axio Imager A2m：搭载CRYSTAL偏振相机，支持多波长分析
岛津MSP-100：专用应力分布测量系统，精度±0.05 nm延迟量
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
