检测项目
晶界能定量分析（测量范围：0.1-5 J/m²，误差≤±0.05 J/m²）
晶界扩散系数测定（温度范围：25-1200℃，精度±5%）
晶界偏聚行为表征（元素浓度检测下限：0.01 at%）
晶界腐蚀敏感性测试（溶液pH 1-13，温度20-80℃）
晶界断裂韧性评估（载荷范围：0.1-50 kN，分辨率0.001 kN）
检测范围
金属合金：铝合金、钛合金、不锈钢等
陶瓷材料：氧化铝、氮化硅、碳化硅等
半导体材料：单晶硅、砷化镓、氮化镓等
高温合金：镍基、钴基超合金
复合材料：金属基/陶瓷基复合材料
检测方法
ASTM E112：晶粒度定量金相分析法
ISO 17746：电子背散射衍射（EBSD）晶界取向差分析
GB/T 13298-2015：金属显微组织检验方法
ISO 20179：场发射扫描电镜（FESEM）界面表征
GB/T 4334-2020：晶间腐蚀敏感性检测
检测设备
场发射扫描电镜：FEI Nova NanoSEM 450（分辨率0.8 nm，配备EBSD探头）
能谱仪：OXFORD X-MaxN 80（元素分析范围B-U，检测限0.1 wt%）
高温力学试验机：INSTRON 8862（最高温度1200℃，载荷精度±0.5%）
原子探针层析仪：CAMECA LEAP 5000（三维原子级成分分析）
X射线衍射仪：BRUKER D8 ADVANCE（角度精度±0.0001°，配备高温附件）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
