检测项目
1.插入损耗测试：≤0.5dB@1310/1550nm双波长
2.回波损耗测量：≥40dB（APC型）/≥35dB（UPC型）
3.偏振相关损耗（PDL）：≤0.1dB@C波段
4.温度循环测试：-40℃~+85℃循环20次
5.重复插拔耐久性：≥500次插拔后ΔIL≤0.2dB
检测范围
1.FC/PC型光纤连接器（陶瓷插芯）
2.PLC型光分路器（18/116分光比）
3.LC/UPC单模光纤跳线（G.652.D）
4.QSFP28光模块（100GSR4）
5.带状光纤熔接点（12芯/24芯）
检测方法
ASTMD4565-2015《光纤互连器件插入损耗测试规程》
ISO/IEC61753-1:2018《光纤互连器件回波损耗评估方法》
GB/T9771.3-2020《通信用单模光纤第3部分：波长色散特性》
GB/T18311.4-2017《纤维光学互连器件试验方法第4部分：耐候性》
TIA-568-C.3《光缆系统组件测试标准》
检测设备
EXFOFTB-500光时域反射仪（动态范围45dB@1550nm）
KeysightN7788B偏振分析仪（PDL分辨率0.01dB）
VIAVIMTS-8000光谱分析仪（波长精度10pm）
AFLFujikuraCT50光纤熔接机（平均损耗≤0.02dB）
Agilent8163B可调谐光源模块（波长范围1260-1630nm）
ThorlabsPM320E光功率计（测量精度0.02dBm）
YokogawaAQ6370D光谱分析仪（分辨率带宽0.02nm）
ILXLightwaveFOD-5420插回损测试系统（IL/RL同步测量）
TektronixDSA8300采样示波器（80GHz带宽）
EspecSCP-222温控箱（温变速率15℃/min）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
