检测项目
1. 矫顽力（Hc）：测量单位Oe或kA/m，表征材料抗退磁能力
2. 剩磁（Br）：单位emu/cm³或T，反映存储介质磁化后保留的磁通密度
3. 矩形比（S*）：0.7-0.9区间值，评估磁滞回线矩形度
4. 信号幅度非线性（SAN）：≤3dB偏差值，检验读写信号保真度
5. 表面粗糙度（Ra）：0.5-2.0nm范围值，使用原子力显微镜测量介质平整度
检测范围
1. 硬盘盘片：铝基/玻璃基磁性镀层材料
2. 数据磁带：CrO₂/金属颗粒涂布型带基
3. 信用卡磁条：高矫顽力（2750-4000 Oe）钡铁氧体材料
4. 软磁盘：γ-Fe₂O³磁性涂层聚酯薄膜
5. 磁条证件：ISO/IEC 7811标准规定的低矫顽力材料
检测方法
1. ASTM F2212-08：振动样品磁强计法测定矫顽力
2. ISO/IEC 10373-6:2016：接触式磁条卡动态信号测试规程
3. GB/T 17234-1998：软磁盘介质物理特性检测规范
4. GB/T 18405-2001：硬盘驱动器用基片表面粗糙度测量方法
5. JIS C5020:2003：磁带剩余磁通密度测试规程
检测设备
1. 振动样品磁强计VSM-250：量程±20kOe，分辨率1×10⁻⁵ emu
2. B-H分析仪SY-8232：支持DC-10MHz频率磁场生成
3. 表面粗糙度测试仪Surfcom NEX000系列：垂直分辨率0.1nm
4. 磁带信号分析系统MT1600A：符合ISO/IEC基线精度±0.15dB
5. 环境试验箱ESPEC PL-3J：温度范围-70℃~180℃，湿度10%~98%RH
6. X射线荧光光谱仪EDX-8000：元素分析精度±0.01%
7. 原子力显微镜Dimension Icon：扫描范围90μm×90μm×10μm
8. 磁光克尔效应测试系统MOKE-2000：角度分辨率0.001°
9. 动态机械分析仪DMA Q800：载荷范围0.0001N~18N
10. 傅里叶红外光谱仪Nicolet iS50：波数范围7800~350cm⁻¹
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
