1. X射线衍射仪(XRD)：用于分析并确定晶体的结晶结构。它通过测量晶体中的X射线衍射图样和峰的位置、强度以及它们之间的差异来识别晶体结构。
2. 电子显微镜(TEM)：通过使用电子束与样品的相互作用，可以观察到晶体的细节结构和形貌。它可以提供高分辨率的图像，以便分析和确定晶体的结构。
3. 扫描电子显微镜(SEM)：类似于TEM，但是SEM使用的电子束是通过样品表面扫描而不是通过样品厚度。它可以提供更广泛的观察范围和表面形貌信息。
4. 透射电子显微镜(TEM)：是一种特殊的电子显微镜，可提供对材料内部结构和缺陷的高分辨率成像。它可以通过样品中的透射电子的强度和方向来确定晶体结构。
5. 原子力显微镜(AFM)：通过使用探针和样品之间的相互作用力来获得原子级的表面形貌和力学性质信息。它可以检测并测量晶体的表面形貌和结构。
