钬箔检测
检测项目
1.化学成分分析:测定Ho纯度(≥99.9%)、稀土杂质总量(≤0.05%)、非稀土杂质(Fe≤50ppm,Si≤30ppm)
2.厚度均匀性:测量范围0.01-2.00mm,公差0.005mm
3.表面粗糙度:Ra≤0.8μm(激光干涉仪测量)
4.晶粒尺寸:平均晶粒直径≤50μm(EBSD分析)
5.密度测试:理论密度8.79g/cm实测偏差≤0.5%
检测范围
1.核反应堆中子吸收材料用钬箔
2.磁致伸缩器件专用超薄钬箔(厚度≤0.1mm)
3.真空镀膜用高纯钬靶材前驱箔
4.高温传感器封装保护层钬箔
5.特种合金复合层状结构中间层钬箔
检测方法
1.ASTME3061-17《稀土金属中杂质元素的ICP-OES测定》
2.ISO14577-1:2015《金属材料硬度和材料参数仪器化压痕试验》
3.GB/T4339-2008《金属材料热膨胀特性测定方法》
4.GB/T10561-2005《钢中非金属夹杂物含量的测定标准评级图显微检验法》
5.ISO17470:2014《微束分析电子探针显微分析波长色散光谱法通则》
检测设备
1.ThermoFisherARLQUANT'XX射线荧光光谱仪(元素定量分析)
2.KeyenceLK-G5000激光测厚仪(非接触式厚度测量)
3.ZEISSSigma500场发射扫描电镜(表面形貌与晶界观测)
4.NetzschDIL402C热膨胀仪(热力学性能测试)
5.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(晶体结构分析)
6.Agilent7900ICP-MS质谱仪(痕量元素检测)
7.MitutoyoSJ-410表面粗糙度仪(三维轮廓测量)
8.Instron5985万能材料试验机(力学性能测试)
9.OxfordInstrumentsAZtecEnergyEDS能谱系统(元素面分布分析)
10.LeicaDM2700M金相显微镜(微观组织观察)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。