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封装与互连组件检测

检测项目

1.热阻测试:结壳热阻(Rjc)≤1.5℃/W(稳态法),瞬态热阻抗(Zth3.气密性检测:氦质谱检漏漏率≤110-85.耐环境试验:温度循环(-55℃~125℃,1000次),湿度敏感等级MSL1级(J-STD-020)

检测范围

1.半导体封装材料:环氧模塑料(EMC)、陶瓷基板(Al2O35.密封器件:TO封装管壳、气密封装金属外壳(Kovar合金)

检测方法

5.环境适应性:MIL-STD-810H(三综合试验)、GB/T2423.22(温度冲击)

检测设备

6.PfeifferASM390氦质谱检漏仪:最小可检漏率510-1210.SonoscanGen6C-SAM声学显微镜:扫描频率230MHz/缺陷识别率≥99%

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

封装与互连组件检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。