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电畴成像检测

检测项目

1.畴壁密度:测量单位面积内畴壁数量(10-10⁵cm⁻),精度5%

2.极化方向分布:分析180极化角度偏差(分辨率≤1)

3.局域压电响应:量化d33系数(0.1-500pm/V),灵敏度0.05pm/V

4.介电常数空间分布:测试εr值范围(50-5000),频率范围1kHz-10MHz

5.漏电流特性:测量电流密度(10⁻-10⁻⁶A/cm),电压范围20V

检测范围

1.铁电薄膜:PZT、BTO等厚度50nm-5μm的溅射/溶胶凝胶薄膜

2.单晶材料:铌酸锂(LiNbO₃)、钽酸锂(LiTaO₃)等晶向(001)/(111)

3.陶瓷材料:锆钛酸铅(PZT)基陶瓷(晶粒尺寸0.5-5μm)

4.聚合物复合材料:PVDF-TrFE共聚物(厚度10-200μm)

5.多层陶瓷电容器(MLCC):BaTiO₃基介电层(单层厚度1-20μm)

检测方法

1.ASTME2865-12:压电力显微镜(PFM)定量测试标准

2.ISO21748:2017:扫描探针显微镜(SPM)测量不确定度评定

3.GB/T3389-2020:铁电陶瓷介电性能测试方法

4.IEC61006:2004:铁电材料开关特性测试规程

5.GB/T27759-2011:电子显微镜能谱定量分析方法

检测设备

1.BrukerDimensionIcon:配备PFM模块,最大扫描范围90μm90μm

2.Keysight9500AFM:支持双频共振追踪模式,Z轴分辨率0.03nm

3.ParkSystemsNX20:真空环境SPM系统(真空度≤110⁻⁶Torr)

4.OxfordInstrumentsCypherES:高温PFM系统(最高400℃)

5.HitachiAFM5300E:集成锁相放大器(频率范围0.1Hz-12MHz)

6.ZEISSMerlinCompact:场发射SEM联用EDS系统(分辨率0.8nm)

7.Agilent4294A:精密阻抗分析仪(频率范围40Hz-110MHz)

8.Keithley4200A-SCS:半导体参数分析系统(电流分辨率10fA)

9.PolytecMSA-600:微区振动测量系统(位移分辨率0.01pm)

10.RadiantPrecisionPremierII:铁电测试系统(最大电压10kV)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

电畴成像检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。